MANUEL PROB İSTASYONLARI

Prob istasyonu, yarı iletken bir aygıtın dahili devrelerinden fiziksel olarak sinyal almak için kullanılır. Prob istasyonu, ince iğnelerin yarı iletken aygıtın yüzeyinde hassas olarak konumlandırılmasına olanak sağlayan manipülatörlere sahiptir. Aygıt elektriksel olarak uyarılırsa, sinyal mekanik prob tarafından alınır ve bir osiloskop üzerinde görüntülenir.

Prob istasyonları, fizik bilimcilerinin ve araştırmacıların, tutarlı sonuçlar üreten uygun ve tekrarlanabilir ölçümler aracılığı ile temel bilim yapmalarını sağlar. Prob istasyonları, I-V/C-V, radyo frekansı (RF), milimetre-dalga (mmW) ve THz-altı ölçümler, aygıt ve wafer karakterizasyon testleri (DWC), wafer seviye güvenilirliği, başarısızlık analizi (FA), modelleme, verim artışı, alt mikron tarama, MEMS, optoelektronik mühendislik testleri ve daha birçok uygulamayı destekleyebilen çok yönlü ve esnek araştırma platformlarıdır.

Rotalab, 50 mm ve 450 mm wafer/sübstrat arasında tarama yetenekleri ile manuel prob sistemleri sağlamaktadır. Wafer tarama sistemlerimize, araştırmalarınızda ve endüstriyel uygulamalarınızda en etkili şekilde çalışmanızı sağlamak için en son teknoloji entegre edilmiştir.

  • PS4L M-4
    [100 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    100mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • PS4L M-6
    [150 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    150mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • PS4L M-8
    [200 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    200mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • PS4L M-12
    [300 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    300mm Manual Wafer Prob Sistemi
Ekonomik Prob İstasyonları (Lab Assistant Serisi)
  • LA-50 DC
    [50 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    50mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • LA-50 HF
    [50 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    50mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • LA-100 DC
    [100 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    100mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • LA-100 HF
    [100 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    100mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • LA-150 DC
    [150 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    150mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • LA-150 HF
    [150 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    150mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • LA-200 DC
    [200 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    200mm Manual Wafer Prob Sistemi
  • LA-200 HF
    [200 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Manuel Prob İstasyonu
    200mm Manual Wafer Prob Sistemi
Özel Prob İstasyonları
  • DSP M
    [çift taraflı tarama]

    SEMIPROBE
    Manuel Simültene Çift Taraflı Prob İstasyonu
    Manuel Simültene Çift Taraflı Wafer Prob Sistemi