OTOMATİK PROB İSTASYONLARI

Prob istasyonu, yarı iletken bir aygıtın dahili devrelerinden fiziksel olarak sinyal almak için kullanılır. Prob istasyonu, ince iğnelerin yarı iletken aygıtın yüzeyinde hassas olarak konumlandırılmasına olanak sağlayan manipülatörlere sahiptir. Aygıt elektriksel olarak uyarılırsa, sinyal mekanik prob tarafından alınır ve bir osiloskop üzerinde görüntülenir.

Prob istasyonları, fizik bilimcilerinin ve araştırmacıların, tutarlı sonuçlar üreten uygun ve tekrarlanabilir ölçümler aracılığı ile temel bilim yapmalarını sağlar. Prob istasyonları, I-V/C-V, radyo frekansı (RF), milimetre-dalga (mmW) ve THz-altı ölçümler, aygıt ve wafer karakterizasyon testleri (DWC), wafer seviye güvenilirliği, başarısızlık analizi (FA), modelleme, verim artışı, alt mikron tarama, MEMS, optoelektronik mühendislik testleri ve daha birçok uygulamayı destekleyebilen çok yönlü ve esnek araştırma platformlarıdır.

Rotalab, 50 mm ve 450 mm wafer/sübstrat arasında tarama yetenekleri ile otomatik prob sistemleri sağlamaktadır. Wafer tarama sistemlerimize, araştırmalarınızda ve endüstriyel uygulamalarınızda en etkili şekilde çalışmanızı sağlamak için en son teknoloji entegre edilmiştir.

  • PS4L FA-4
    [100 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Tam Otomatik Prob İstasyonu
    100mm Tam Otomatik Wafer Prob Sistemi
  • PS4L FA-6
    [150 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Tam Otomatik Prob İstasyonu
    150mm Tam Otomatik Wafer Prob Sistemi
  • PS4L FA-8
    [200 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Tam Otomatik Prob İstasyonu
    200mm Tam Otomatik Wafer Prob Sistemi
  • PS4L FA-12
    [300 mm tabla]

    SEMIPROBE
    Tam Otomatik Prob İstasyonu
    300mm Tam Otomatik Wafer Prob Sistemi